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6分钟前 EMMI显微镜询问报价「多图」[苏州特斯特31ff5f9]内容:自动聚焦显微镜的研究在高倍率显微图像的处理过程中,自动聚焦具有重要意义。本文对动态自动聚焦显微镜的清晰度自动检测系统和高精度位置随动系统进行了分析,提出了理想的清晰度检测方法评价参数的特征,叙述了微分峰值检测法的原理、实验结果、 控制系统的设计和整机性能评价。如有您需要订购,欢迎来电咨询我们公司,为您提供详细介绍!
芯片失效分析步骤:
1、非破坏性分析:主要是超声波扫描显微镜(C-SAM)--看有没delamination,xray--看内部结构,等等;
2、电测:主要工具,万用表,示波器, tek370a
3、破坏性分析:机械decap,化学 decap芯片开封机
4、半导体器件芯片失效分析 芯片內部分析,孔洞气泡失效分析。
苏州特斯特电子科技有限公司,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,产品涵盖电子元器件,电路板,线缆线束的测试与检测。